fischer膜厚仪使用方法（fischerscope膜厚仪）



1、fischer膜厚仪使用方法

菲希尔膜厚仪使用指南

1.仪器准备

确保仪器已校准。

插入校准基准。

打开仪器电源。

2.样品准备

清洁待测表面，去除任何污染物。

根据制造商的说明选择合适的探头。

将探头连接到仪器。

3.测量设置

选择正确的测量模式（例如，单次、连续）。

设置测量参数，例如测量时间和平均次数。

选择适当的校准设置。

4.测量过程

将探头置于待测表面上，确保与表面充分接触。

轻微施加压力直至仪器发出信号音。

读取仪器显示的测量值。

5.测量注意事项

确保探头与表面垂直接触。

避免在有磁干扰的区域测量。

如果测量值不稳定，请重新校准仪器。

定期清洁探头和校准基准。

6.数据记录

仪器可以保存测量值以供以后参考。

确保数据正确记录并妥善存储。

7.维护

定期清洁探头和仪器。

按照制造商的建议进行校准和维护。

在不使用时关闭仪器电源。

2、fischerscope膜厚仪

Fischerscope 膜厚仪：精确而全面的薄膜分析

1. 简介

Fischerscope 膜厚仪是一种先进的测量仪器，用于精确测量薄膜和涂层的厚度。它广泛应用于半导体、光学、汽车和航空航天等行业中。

2. 技术原理

Fischerscope 膜厚仪基于电磁感应原理工作。当带有交变磁场的探针靠近磁性样品时，样品中会产生感应电流。感应电流的大小与样品表面的厚度和磁导率有关。通过测量感应电流，仪器可以计算出样品的厚度。

3. 特点和优势

高精度：Fischerscope 膜厚仪具有高精度，可以测量高达纳米级的厚度。

非接触测量：探针不会接触样品表面，因此不会对其造成损坏。

多种测量模式：仪器提供多种测量模式，包括单层测量、多层测量和表面轮廓测量。

用户友好界面：基于 Windows 的软件界面简单易用，使操作变得轻松。

广泛的应用：Fischerscope 膜厚仪可用于测量各种材料表面上的薄膜和涂层，包括金属、陶瓷、聚合物和复合材料。

4. 应用示例

Fischerscope 膜厚仪在以下应用中得到了广泛使用：

半导体行业：测量芯片上的薄膜厚度，如介电质层和金属化层。

光学行业：测量透镜和涂层系统上的防反射涂层和滤光片的厚度。

汽车行业：测量汽车玻璃上的防刮擦涂层和防眩光涂层的厚度。

航空航天行业：测量飞机部件上的腐蚀防护涂层和抗静电涂层的厚度。

5. 小结

Fischerscope 膜厚仪是薄膜和涂层测量领域的领先工具。其高精度、非接触测量、多种测量模式和广泛的应用领域使其成为各个行业中进行准确和全面的薄膜分析的理想选择。

3、fischer膜厚仪如何校准

Fischer 膜厚仪校准指南

1. 仪器准备

确保 Fischer 膜厚仪已清洁且处于良好的工作状态。

准备校准标准，其厚度已由外部实验室认证或使用 Fischer 校准工具测量。

2. 校准软件加载

打开 Fischer 膜厚仪的软件。

单击“校准”选项卡。

选择要校准的探头类型。

3. 输入校准标准

在“校准标准厚度”字段中输入校准标准的厚度。

选择校准点的数量（通常为 2 或 4）。

4. 校准过程

将校准标准放置在 Fischer 膜厚仪探头下方，确保它平整且与样品表面接触良好。

单击“开始校准”按钮。

仪器将在校准点上自动进行测量。

完成测量后，软件将显示校准曲线。

5. 审核校准结果

检查校准曲线的 R2 值，它应该接近于 1。

审核校准点的测量值，确保它们与校准标准的厚度相符。

6. 保存校准

如果校准结果令人满意，请单击“保存校准”按钮。

校准数据将存储在仪器中，用于随后的厚度测量。

7. 验证校准

建议使用其他经过认证的校准标准验证校准结果。

执行厚度测量，并将其与验证标准的厚度进行比较。

如果测量值与验证标准相符，则校准成功。否则，可能需要重新校准。

注意：

Fischer 膜厚仪的校准频率取决于仪器的使用频率和测量精度要求。

定期校准对于确保测量结果的准确性和可靠性至关重要。

请遵循 Fischer 膜厚仪用户手册中的详细校准说明。